Sûreté de fonctionnement des systèmes - Analyse des systèmes non réparables

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Sûreté de fonctionnement des systèmes - Analyse des systèmes non réparables

Auteur(s) : Marc GIRAUD

Date de publication : 10 février 2006

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RÉSUMÉ

Cet article traite des méthodes d’analyse des différents types d’équipements et systèmes non réparables ; ceux où l’état des entités est indépendant de celui des autres (analyse combinatoire) et ceux où la défaillance d’une entité interfère avec la contrainte subie par les autres (analyse séquentielle). Il est nécessaire de faire appel à des méthodes inductives d’analyse des conséquences fonctionnelles de défaillances élémentaires, et à des méthodes déductives d’identification des combinaisons de fautes générant un évènement redouté. Ces méthodes – respectivement l’Analyse des Modes de Défaillance, de leurs Effets et de leur Criticité (AMDEC) et la Méthode de l’Arbre des Causes (MAC) – se montrent totalement complémentaires.

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AUTEUR(S)

  • Marc GIRAUD : Ingénieur de l’École Française de Radioélectricité, d’Électronique et d’Informatique (EFREI) - Ancien chef du service Sûreté de fonctionnement et Testabilité de Dassault Électronique

 INTRODUCTION

Dans la suite de cet exposé, nous allons traiter des méthodes d’analyse des différents types d’équipements (réparables ou non) et systèmes (localisés ou distribués), en fonction de la nature (combinatoire, séquentielle) du fonctionnement et de la typologie des états (stables ou fugitifs) consécutifs à une défaillance.

Partant du plus simple, on aborde ici seulement les systèmes non réparables (dont les attributs fiabilité et disponibilité sont toujours confondus) :

  • d’abord ceux où l’état des entités est indépendant de celui des autres : le bon fonctionnement de structures en série, en parallèle, à majorité k/n est analysé de manière combinatoire, via le bloc « diagramme de fiabilité » ou « l’ensemble » des liens (« tie set ») minimaux ou la table de vérité ;

  • puis ceux où la défaillance d’une entité interfère avec la contrainte subie par les autres. L’analyse séquentielle du phasage des états requiert alors la convolution des densités de défaillance respectives pour traiter les architectures «  stand-by  ».

Relativement à la sécurité et à la testabilité, en mission , on passe ensuite aux méthodes inductives d’analyse (« bottom-up ») des conséquences fonctionnelles de défaillances élémentaires , et à celles déductives, d’identification (« top-down ») des combinaisons de fautes, générant un événement redouté (ER) au niveau du circuit/système.

Ces méthodes – respectivement l’Analyse des Modes de Défaillance, de leurs Effets et de leur Criticité ( AMDEC ) et la Méthode de l’Arbre des Causes ( MAC ) – sont ici complémentaires pour relever le défi d’exhaustivité posé par la combinatoire ; elles ne sont pas pour autant aisément exploitables sans :

  • une logique de synthèse – dite Méthode des Combinaisons de Pannes Résumées ( MCPR ) – pour regrouper et chiffrer – selon l’origine interne/externe par rapport au système – les causes à effets identiques , repérées une à une par l’AMDE(C) ;

  • le concept des Diagrammes de Décision Binaire ( DDB ) pour le chiffrage exact en probabilité des « coupes minimales » issues de la MAC en produits booléens, quels...

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DOI (DIGITAL OBJECT IDENTIFIER)

https://doi.org/10.51257/a-v1-e3851

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