4. Modélisation de l'immunité des composants
Les circuits intégrés (CI) sont une des causes principales des émissions électromagnétiques conduites ou rayonnées par les équipements, et correspondent aux éléments sensibles lorsque l'on s'intéresse à l'immunité des mêmes composants. Les perturbations vues au niveau du CI, sont issues d'une propagation des perturbations provenant de l'extérieur du système, ou générées par un des autres éléments du système. La performance CEM du système repose fondamentalement sur celle des CI. Le développement de la simulation pour traiter des problématiques système requiert donc des modèles pour représenter ces CI, et en particulier pour l'immunité, qui est l'aspect que nous allons développer dans cette partie.
4.1 Analyse d'immunité en mode conduit
Le document IEC 62433-4...
Cet article est réservé aux abonnés. Il vous reste 92 % à découvrir.
Déjà abonné ? Se connecter
Modélisation de l'immunité des composants
Sources bibliographiques
Cet article est réservé aux abonnés. Il vous reste 92 % à découvrir.
Déjà abonné ? Se connecter
Article inclus dans l'offre
"Conversion de l'énergie électrique"
(
441 articles
)
Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques.
Quiz, médias, tableaux, formules, vidéos, etc.
Opérationnels et didactiques, pour garantir l'acquisition des compétences transverses.
Un ensemble de services exclusifs en complément des ressources.
