Préparation des échantillons pour la mesure d'orientations individuelles
Texture et anisotropie des matériaux polycristallins - Cartographie par diffraction de Kikuchi

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Préparation des échantillons pour la mesure d'orientations individuelles
Texture et anisotropie des matériaux polycristallins - Cartographie par diffraction de Kikuchi

Auteur(s) : Robert SCHWARZER, Claude ESLING

Relu et validé le 6 janvier 2023 | Read in english

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3. Préparation des échantillons pour la mesure d'orientations individuelles

La première condition en microscopie électronique est de disposer d'échantillons stables dans le vide et sous l'impact d'électrons de haute énergie. Ils doivent posséder un minimum de conductivité électrique afin de ne pas se charger  . Dans le cas du MET, la charge électrique est moins critique et peut être réduite en plaçant un échantillon mince sur un film support conducteur. Les électrons secondaires libérés par un diaphragme à grande ouverture dans le plan focal arrière déchargeront l'échantillon. Les champs magnétiques parasites et la charge des échantillons massifs dans le MEB peuvent être plus gênants. Le revêtement de surface habituel avec une couche d'or pulvérisée,...

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