Conclusion
Caractérisation des surfaces par SDL

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M1675 V2 Archive

Conclusion
Caractérisation des surfaces par SDL

Auteur(s) : Hubert HOCQUAUX

Date de publication : 10 mars 1997

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4. Conclusion

La spectrométrie à décharge luminescente s’est imposée comme une méthode de contrôle ou d’études essentielle pour l’analyse de la surface des échantillons conducteurs revêtus ou ayant subi un traitement.

Les outils proposés sur le marché permettent aujourd’hui l’analyse quantitative dans un grand nombre de cas grâce à des logiciels de quantification maintenant bien rodés dans le cas des matériaux conducteurs. L’introduction récente d’analyseurs simplifiés, permettant la détermination d’un nombre limité d’éléments (environ 20), doit conduire à une augmentation importante des spectromètres utilisés pour le contrôle sur site directement à côté des lignes de production. Jusqu’à présent c’est essentiellement au Japon que la technique était ainsi mise en œuvre sur site pour caractériser les couches formées par déposition de zinc sur acier (mesure de l’épaisseur et détermination...

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