4. Acquisition d’une cartographie des défauts
L’acquisition d’une cartographie de défaut se fait par traitement du signal à l’aide de portes de mesure.
Les portes mesurent le signal A-SCAN transmis ou réfléchi afin d’associer à chaque point deux valeurs numériques automatiquement : un temps et une amplitude.
L’amplitude mesurée est soit celle de la plus grande crête du signal qui se trouve dans la porte, soit celle de la première crête qui se trouve dans la porte.
Le temps mesuré est le temps qui s’écoule entre l’émission des ultrasons et l’apparition de la plus grande crête du signal qui se trouve dans la porte, ou de celle de la première crête qui se trouve dans la porte (figure 9).
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Acquisition d’une cartographie des défauts
Principe de la méthode de contrôle par réflexion
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