Présentation
RÉSUMÉ
La diffraction des rayons X sur poudre est une méthode non-destructive largement utilisée dans les mondes académique et industriel, à la faveur de progrès considérables ces 30 dernières années concernant l’instrumentation et le traitement des données. Cet article décrit l’expérience en rappelant le principe et en décrivant les montages actuels. Les éléments-clés de l’analyse sont exposés (préparation de l’échantillon, acquisition des données). Enfin toutes les informations structurales que l’on peut extraire d’un diffractogramme sont détaillées, comme l’identification de phases, la quantification de phases, l’analyse microstructurale, tout en exposant les biais et les limites.
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Lire l'articleAUTEUR(S)
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Sandrine TUSSEAU-NENEZ : Ingénieure civile de la Défense - Laboratoire de physique de la matière condensée, CNRS, École polytechnique, Institut Polytechnique de Paris, Palaiseau, France
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Sophie NOWAK : Ingénieure de recherche - Laboratoire ITODYS UMR 7086, Université Paris Cité, Paris, France
INTRODUCTION
Depuis les années 1990, et grâce aux évolutions informatiques,
la diffraction des rayons X s’est développée dans les laboratoires
académiques et dans l’industrie. L’apparition des premiers diffractomètres
de poudre industriels, combinés à la méthode de Rietveld, ont introduit
la technique dans les procédures de contrôle des procédés. Les synchrotrons
sont à l’origine de nombreux développements instrumentaux
La diffraction des rayons X sur poudre, ou plus généralement sur des matériaux polycristallins, est très fréquemment utilisée : c’est une technique non destructive, peu contraignante pour la préparation des échantillons, et réalisable le plus souvent dans un environnement non spécifique (sous air, à température et pression ambiante).
Elle sert principalement à identifier des matériaux variés, tels
que les minéraux, les polymères, les métaux, les ciments, les semi-conducteurs,
les céramiques, ou encore les médicaments. Elle est utilisée dans
les domaines du patrimoine
de quantifier les phases cristallines ou amorphes en présence ;
de mettre en évidence des orientations cristallographiques préférentielles...
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MOTS-CLÉS
polycristallins | Diffraction des rayons X | identification des phases | analyses structurale et microstructurale
VERSIONS
Il existe d'autres versions de cet article :
- Version archivée 1 de oct. 1983 par Christian LAHANIER, Paul PARNIÈRE, Gérard MAEDER
- Version archivée 2 de avr. 1996 par Norbert BROLL
DOI (DIGITAL OBJECT IDENTIFIER)
Caractérisation des matériaux polycristallins par diffraction des rayons X
Principe de la diffraction des poudres
Sources bibliographiques
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