Émission X induite par particules chargées (PIXE) : théorie

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Émission X induite par particules chargées (PIXE) : théorie

Auteur(s) : Philippe MORETTO, Lucile BECK

Date de publication : 10 décembre 2003 | Read in english

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RÉSUMÉ

La technique d'analyse PIXE est une méthode d’analyse multiélémentaire très sensible, qui repose sur l’utilisation de particules chargées comme projectiles pour induire l’émission de fluorescence X. Elle est utilisée pour déterminer la présence d’une espèce chimique élémentaire (information en Z) indépendamment de toute influence de son environnement chimique. Cet article présente les bases théoriques de l’émission X induites par des particules chargées.  

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AUTEUR(S)

  • Philippe MORETTO : Professeur à l’université Bordeaux 1 Centre d’études nucléaires de Bordeaux-Gradignan

  • Lucile BECK : Enseignant-chercheur à l’Institut des sciences et techniques nucléaires Commissariat à l’énergie atomique (Saclay)

 INTRODUCTION

L’utilisation de particules chargées comme projectiles pour induire l’émission de fluorescence X date de 1970 . Johansson utilise alors un faisceau intense de protons de quelques MeV, délivré par un accélérateur électrostatique.

En étudiant le spectre des photons X émis à l’aide d’un détecteur de type Si(Li), il pose les bases d’une méthode d’analyse multiélémentaire très sensible : la technique PIXE (« Particle Induced X-ray Emission ») ; littéralement « émission X induite par particules chargées ». Cette sensibilité est due essentiellement à l’intensité des faisceaux de particules disponibles, à leur pouvoir ionisant et, surtout, à l’excellent rapport signal/bruit de fond, bien meilleur à l’époque que celui obtenu avec des tubes à rayons X ou des faisceaux d’électrons.

Aujourd’hui, cette technique d’analyse est devenue une méthode de base lorsqu’il s’agit de déterminer la présence d’une espèce chimique élémentaire (information en Z) indépendamment de toute influence de son environnement chimique. Elle fournit une information quantitative absolue en termes de masse par centimètre carré d’échantillon et permet l’analyse de traces en routine dans de nombreux domaines d’applications : sciences de la vie et environnement, caractérisation physico-chimique des matériaux, archéométrie... Ces applications seront détaillées dans la deuxième partie (article ).

Les avantages plus particulièrement associés à l’émission X induite par particules chargées sont les suivants :

  • une très bonne sensibilité, en analyse de routine, sur la majeure partie du tableau périodique (Z > 10), avec une limite relative inférieure de détection de l’ordre de 10 -6  g/g et une limite absolue en masse de 10 -16  g lorsqu’elle est employée à l’aide d’un faisceau microscopique. Cette limite peut être optimisée sur une zone particulière du tableau périodique en choisissant l’énergie des particules incidentes et le type de raies X détectées (raie K ou L). Dans ces conditions, cette valeur ne varie pas plus d’un ordre de grandeur (entre 10 -5 et 10 -6  g/g) sur le domaine 10 < Z < 92 ;...

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DOI (DIGITAL OBJECT IDENTIFIER)

https://doi.org/10.51257/a-v1-p2557

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