5. Test des circuits intégrés numériques
Un circuit intégré numérique peut comporter des dizaines de millions de transistors. Même comportant un transistor défaillant, un circuit peut fonctionner pendant des années sans qu'aucun problème ne se manifeste. Cependant, le jour où la partie ayant un défaut est activée, le circuit produira un résultat erroné, ce qui peut avoir des conséquences désastreuses dans l'application où il est utilisé.
L'objectif du test structurel des circuits intégrés est de détecter les circuits ayant des défauts de fabrication les rendant impropres au fonctionnement souhaité.
Les circuits testés sont supposés fonctionnellement corrects. Il faut donc bien différencier ces tests de fin de fabrication des tests fonctionnels de mise au point dont l'objectif est de trouver les erreurs de fonctionnements sur les prototypes du circuit. Dans le premier cas, l'objectif...
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