4. Différents modes de mesure
Nous présentons dans cette partie les différents protocoles de mesure qu’il est possible d’utiliser en fonction des propriétés de l’échantillon à étudier. Nous distinguons en particulier le régime de champ faible (matériaux antiferromagnétiques ou faiblement aimantés et très fins) et le régime de champ « fort » (matériaux ferromagnétiques épais et/ou à forte aimantation).
4.1 Régime de champ faible (< 5 − 10 mT)
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Différents modes de mesure
Interprétation des cartes de champ de fuite
Sources bibliographiques
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