1. Microscopie à force atomique pour la mesure d’interactions spécifiques
1.1 Principe de l’AFM et de ses principaux modes d’utilisation
La technologie AFM, introduite en 1986 , fonctionne en contrôlant la force exercée entre une pointe fine et une surface tout en balayant un échantillon. Elle repose sur un balayage physique de surface, la distinguant ainsi de la microscopie électronique et optique. Lors du balayage, la pointe suit les reliefs de l’échantillon, induisant un fléchissement du levier auquel elle est attachée. Ce fléchissement est...
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Microscopie à force atomique pour la mesure d’interactions spécifiques
Fonctionnalisation de leviers et pointes AFM avec des particules inertes
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