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Imagerie par spectrométrie de masse TOF-SIMS pour l’analyse de tableaux anciens

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RE274 V1 Recherche et innovation

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Imagerie par spectrométrie de masse TOF-SIMS pour l’analyse de tableaux anciens

Auteur(s) : Alain BRUNELLE

Date de publication : 10 janvier 2019 | Read in english

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1. Techniques

1.1 TOF-SIMS

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