4. Microscope à force atomique métrologique
À l’échelle du nanomètre, le microscope à force atomique métrologique est le moyen de raccordement des mesures dimensionnelles au Système international d’unités. Il fait le lien entre, d’une part les utilisateurs de microscopes à champ proche à la base de la pyramide de traçabilité et, d’autre part, l’unité de longueur au sommet de la pyramide de traçabilité. Il s’agit d’un instrument de mesure dédié à l’étalonnage des étalons de transferts utilisés dans le domaine des nanosciences et nanotechnologies.
4.1 Définition
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Microscope à force atomique métrologique
AFM métrologique du LNE
Sources bibliographiques
- (1) - The Royal Society & The Royal Academy of Engineering - Nanoscience and nanotechnologies : opportunities and uncertainties - http://www.nanotec.org.uk/finalReport.htm (juillet 2004).
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