Bibliographie & annexes
Présentation
En anglais
RÉSUMÉ
L'augmentation des champs d'application de l'électronique de puissance conduit à l'émergence de nombreuses évolutions technologiques en corrélation avec les niveaux de sollicitations et les contraintes législatives. De par le caractère sécuritaire des modules à semi-conducteurs de puissance dans le système, il est impératif de valider la fiabilité de ces nouvelles solutions. Or, les faibles volumes de production et les grandes durées de vie objectivées limitent l'usage de l'approche statistique dans ce domaine technologique. En ce sens, cet article propose d'appréhender l'évaluation de la « fiabilité » en mettant l'accent sur une approche de la physique de défaillances des assemblages de puissance.
Lire cet article issu d'une ressource documentaire complète, actualisée et validée par des comités scientifiques.
Lire l’articleABSTRACT
The increase in the application fields of power electronics has led to the emergence of a significant number of technological evolutions in compliance with stress levels and regulatory constraints. Due to the safety function of power semiconductor modules within the subsystem, the reliability of these new solutions must be proven. However, the low production volumes and the long lifetime desired limit the use of the statistical approach within this technological domain. This article thus offers to assess the "reliability" by focusing on an approach of the physics of failure of power assemblies.
Auteur(s)
-
Mounira BOUARROUDJ-BERKANI : Docteur de l'École Normale Supérieure de Cachan - Maître de conférences, Université Paris-Est Créteil (IUFM Créteil) - Chercheuse au laboratoire SATIE de l'ENS Cachan
-
Laurent DUPONT : Docteur de l'École Normale Supérieure de Cachan - Chargé de recherche, INRETS (Laboratoire des technologies nouvelles à Versailles Satory)
INTRODUCTION
Le développement de l'électronique de puissance dans de nouveaux domaines d'usage conduit à un accroissement des niveaux de sollicitations fonctionnelles et environnementales appliqués aux modules de puissance (automobile, aéronautique...). Dès lors, de nombreuses ruptures technologiques sont développées afin de satisfaire les objectifs parfois contradictoires de maîtrise des coûts, de réduction du poids et de l'encombrement, tout en améliorant les spécifications en termes de maintenabilité et de fiabilité.
Or, un certain nombre de freins limitent l'exploitation des prescriptions définies dans le champ de la sûreté de fonctionnement et, plus spécifiquement, pour l'évaluation de la fiabilité des dispositifs intégrés à semi-conducteurs de puissance. En effet, l'évaluation de la fiabilité, indissociable de l'approche statistique, est rendue délicate de par la grande durée de vie objectivée avec un faible taux de défaillance, les nombreuses évolutions technologiques et le faible volume de production des systèmes à semi-conducteurs de puissance.
La démarche présentée dans ce dossier propose une introduction à l'évaluation de la robustesse des assemblages à semi-conducteurs de puissance à partir d'une compréhension de la dégradation physique entraînant la défaillance, avec :
-
la présentation des constituants d'un assemblage de puissance conventionnel et les principaux domaines d'application ;
-
en rapport avec les profils de mission imposés, le défaut de l'état de l'art des principaux modes de dégradations conduisant à des défaillances principalement d'origine thermomécaniques ;
-
dans le sens de l'approche de la physique de défaillance, l'exposé des principaux mécanismes et facteurs d'endommagement et des moyens permettant de les révéler.
L'expertise technique et scientifique de référence
DOI (Digital Object Identifier)
Cet article fait partie de l’offre
Conversion de l'énergie électrique
(268 articles en ce moment)
Cette offre vous donne accès à :
Une base complète d’articles
Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques
Des services
Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources
Un Parcours Pratique
Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses
Doc & Quiz
Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive
Présentation
Conclusion et synthèse
En anglais
5. Durée de vie des modules sous contraintes thermiques
5.1 Fiabilité et limites liées au domaine de l'intégration de puissance
Dans le vaste contexte de la sûreté de fonctionnement des systèmes, l'Association française de normalisation (AFNOR) exprime la fiabilité en ces termes : « La fiabilité est la caractéristique d'un dispositif exprimée par la probabilité que ce dispositif accomplisse une fonction requise dans des conditions d'utilisation et pour une période de temps déterminée ». Devenue l'un des paramètres essentiels, en réponse à une demande industrielle forte, la fiabilité est associée à des notions connexes comme la disponibilité, la maintenabilité, la sûreté de fonctionnement des produits et la sécurité . L'étude s'appuie alors sur une analyse statistique et probabiliste de la défaillance.
L'expression de la fiabilité R (t ) est une fonction qui associe, à chaque instant, le pourcentage de composants fonctionnels sur le lot testé :
( 1 )
avec :
- R (t ) :
- fiabilité à un instant t donné,
- Nt :
- nombre de systèmes ou composants fonctionnels à l'instant t donné,
-
![]()
: - nombre de systèmes ou composants initialement mis en service à l'instant t = 0.
Le taux de défaillance λ (t ) est une expression probabiliste de l'apparition d'une défaillance à un instant t au cours de la vie du produit :
...
L'expertise technique et scientifique de référence
Cet article fait partie de l’offre
Conversion de l'énergie électrique
(268 articles en ce moment)
Cette offre vous donne accès à :
Une base complète d’articles
Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques
Des services
Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources
Un Parcours Pratique
Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses
Doc & Quiz
Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive
Durée de vie des modules sous contraintes thermiques
BIBLIOGRAPHIE
-
(1) - SELIGER (N.), WOLFGANG (E.), LEFRANC (G.), BERG (H.), LICHT (T.) - Reliable power electronics for automotive applications. - Microelectronics Reliability, vol. 42, Issues 9-11, p. 1597-1604, sept.-nov. 2002.
-
(2) - CIAPPA (M.) - Selected failure mechanisms of modern power modules. - Microelectronics Reliability, vol. 42, Issues 4-5, p. 653-667, avr.-mai 2002.
-
(3) - MERMET-GUYENNET (M.), PERPIÑÁ (X.), PITONA (M.) - Revisiting power cycling test for better life-time prediction in traction. - Microelectronics Reliability, vol. 47, Issues 9-11, p. 1690-1695, sept.-nov. 2007.
-
(4) - LU (H.), BAILEY (C.), YIN (C.) - Design for reliability of power electronics modules. - Microelectronics Reliability, vol. 49, Issues 9-11, p. 1250-1255, sept.-nov. 2009.
-
(5) - MALANDRUCCOLO (V.), CIAPPA (M.), ROTHLEITNER (H.), FICHTNER (W.) - A new built-in screening methodology to achieve zero defects in the automotive environment. - Microelectronics Reliability, vol. 49, Issues 9-11, p. 1334-1340, sept.-nov. 2009.
- ...
DANS NOS BASES DOCUMENTAIRES
ANSYS http://www.ansys.com
ABAQUS http://www.simulia.com
MATLAB http://www.mathworks.com
SCILAB http://www.scilab.com
CONSOL http://www.comsol.com
HAUT DE PAGE
ESREF European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (conférence internationale)
EPE Europeen conference on Power Electronics and Applications (conférence internationale)
PCIM http://www.mesago.de/en/PCIM/home.htm
ECPE Europeen Center for Power Electronics http://www.ecpe.org
EPF Electronique de Puissance du Futur (conférence nationale)
HAUT DE PAGE
DO 160 - 1997 - Environmental condition and test procedures for airborne equipment, RTCA - -
IEC 60747-15 - Ed. 1 : Discrete Semiconductor devices – Part 15 : Isolated power semiconductor devices - -
...
L'expertise technique et scientifique de référence
Cet article fait partie de l’offre
Conversion de l'énergie électrique
(268 articles en ce moment)
Cette offre vous donne accès à :
Une base complète d’articles
Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques
Des services
Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources
Un Parcours Pratique
Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses
Doc & Quiz
Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive
