Alexandra DELVALLEE

Ingénieure de recherche - Laboratoire national de métrologie et d’essais (LNE), pôle Photonique-Énergétique, équipe nanométrologie, Trappes, France

  • Les microscopies à force atomique et électronique à balayage sont aujourd’hui des techniques très répandues pour la caractérisation des nano-objets. La comparaison interlaboratoire permet aux utilisateurs d’appréhender les capacités métrologiques de leurs instruments à ces échelles.

  • Comment mesurer la taille, la distribution en taille et la forme des nanoparticules ? La combinaison de la microscopie à force atomique et de la microscopie électronique à balayage semble prometteuse. Ces mesures sont d’autant plus importantes que les paramètres dimensionnels des nanoparticules impactent leur toxicité.