Chargé de recherche - SATIE (UMR 8029), IFSTTAR, CNRS, ENS Cachan, CNAM, Université Cergy-Pontoise, Université Paris-Sud, ENS Rennes, Versailles, France
ARTICLE INTERACTIF
La température des composants à semi-conducteurs de puissance affecte la fiabilité et le vieillissement des convertisseurs statiques d’énergie électrique. Découvrez les principales solutions et méthodes expérimentales de mesure de cette grandeur dans les conditions d’usage.
La maîtrise de la fiabilité de l’électronique de puissance est un impératif économique, or les sollicitations appliquées aux modules de puissance, facteurs aggravants de la défaillance, s’accroissent. Cet article introduit l’évaluation de la fiabilité et de la robustesse de ces assemblages.