Jean-Claude RIVOAL

La microscopie à force atomique a connu un développement rapide. La technologie de cette sonde locale, basée sur la mesure des forces entre un fin stylet et la surface étudiée, permet d’imager des surfaces avec une résolution, transversale et verticale, de l’ordre du nanomètre. Sa facilité de mise en œuvre permet même des contrôles sur des lignes de production. Cet article commence par décrire l’instrumentation et les différents modes de fonctionnement de l’AFM. Ensuite, il conduit une brève exploration des applications de la microscopie à force atomique.