Article

1 - PROCESSUS ITÉRATIF DE « DÉVERMINAGE »

2 - PLANIFICATION DES ESSAIS ET MESURE DE LA « CROISSANCE » DE FIABILITÉ

3 - CAS DU LOGICIEL

4 - ORGANISATION ET GESTION DE LA SÛRETÉ DE FONCTIONNEMENT

| Réf : E3856 v1

Sûreté de fonctionnement des systèmes - Croissance de fiabilité et management

Auteur(s) : Marc GIRAUD

Date de publication : 10 mai 2007

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Présentation

RÉSUMÉ

La réduction du risque de pannes opérationnelles sur le terrain, ou d’échec aux essais de qualification et de recette impose l’application systématique d’épreuves physiques liées à la présence aléatoire de fautes résiduelles. Et même, face au déterminisme des fautes génériques, la conduite éventuelle d’essais valide l’obtention d’une fiabilité conforme au modèle de croissance choisi et au phasage du programme.

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Auteur(s)

  • Marc GIRAUD : Ingénieur de l’École Française de Radioélectricité, d’Électronique et d’Informatique (EFREI) - Ancien chef du service Sûreté de fonctionnement et Testabilité de Dassault Électronique

INTRODUCTION

La réduction du risque de pannes opérationnelles sur le terrain, ou d’échec aux essais de qualification/recette impose (à divers niveaux d’intégration) l’application systématique d’épreuves physiques liées à la présence aléatoire de fautes résiduelles ; et même – face au déterminisme des fautes génériques – la conduite éventuelle d’essais, validant l’obtention d’une fiabilité conforme au modèle de croissance choisi et au phasage du programme.

Cela implique :

  • pour le matériel de série : de dimensionner la durée des contraintes appliquées – dans le cadre itératif du processus de « déverminage » – afin d’éliminer en usine les éléments statistiquement faibles, par des cycles à variation rapide de température, dits VRT. Il faut inclure, en présérie, les mesures accélérées de marges de fonctionnement, de seuils de destruction et/ou de durées de vie, par essais de type HALT (« highly accelerated life testing ») et HASS (« highly accelerated stress screening », hors du processus de croissance, au sens strict) ;

  • pour le matériel et le logiciel : l’implémentation d’un véritable programme de croissance de fiabilité, en phase de développement. Il s’agit là de planifier et contrôler les besoins de reconception et de test associés, via les modèles de Duane, du groupe AMSAA ou du LAAS-CNRS, validant à temps l’intégration des modifications introduites ;

  • pour le management de l’activité sûreté de fonctionnement (SdF) sur les phases du cycle de vie : le rappel de l’enchaînement logique des tâches, des outils et documents requis, selon leur finalité.

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DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v1-e3856


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BIBLIOGRAPHIE

  • (1) -   Répertoire des moyens, laboratoires et organismes d’essais en environnement.  -  ASTE (2005).

  • (2) - MAURIER (I.) -   Guide du STRIFE.  -  Mémoire de DESS Fiabilité, université d’Angers (1991).

  • (3) -   Déverminage des matériels électroniques : apport de la démarche aggravée.  -  ASTE (2006).

  • (4) -   Recueil des conférences Astelab 2006.  -  ASTE (2007).

  • (5) -   Déverminage des matériels électroniques.  -  ASTE, AFQ (1996).

  • (6) - DUANE (J.T.) -   « Learning curve approach to Reliability Monitoring ».  -  (IEEE transactions in Aerospace, vol. 2 (1964).

  • ...

Revues

* - IEEE transactions on reliability (trimestrielle, États-Unis)

* - Phoebus (trimestrielle, France)

Actes de congrès

* - Colloque européen « λ,µ » (France, années paires)

* - European Safety and Reliability Conference, années impaires (ESREL)

* - Proceedings of Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS) (États-Unis)

* - International Symposium on Fault Tolerant Computing (IEEE) (FTCS) (annuel, États-Unis)

* - Proceedings of Institute of Environmental Sciences (IES) (États-Unis)

HAUT DE PAGE

2 Normalisation, recommandations

NF C98-883 - 04-85 - Microstructures – Sélection des circuits intégrés par élimination des défauts de jeunesse – Prescriptions générales (Afnor). - -

MIL-STD-785B - 07-98 - Reliability program for systems and equipment development and production. - -

MIL-STD-883 - 02-06 - Test Method Standard, Microcircuits. - -

RGAéro 000.29 - Guide pour la définition et la conduite d’essais aggravés (BNAE). - -

DO-178B - 01-92 - Software...

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