3. Exemples d’utilisation des techniques de conception en vue de la testabilité
La plupart des techniques de conception pour la testabilité (DFT pour Design For Testability ) citées dans cet article sont aujourd’hui utilisées dans tous les circuits complexes, même (pour ne pas dire surtout) dans des circuits produits en très gros volume. Autotests de mémoires et implantation de chemins série ( scanpath ) se retrouvent dans quasiment tous les produits. La compatibilité avec la norme IEEE 1149.1 est le plus souvent assurée car chaque circuit sera monté sur carte.
Il est très difficile d’obtenir des industriels les caractéristiques de test des circuits intégrés produits, ces informations étant très sensibles. Néanmoins, pour que le lecteur ait une idée plus précise de ce qui est mis en œuvre...
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Exemples d’utilisation des techniques de conception en vue de la testabilité
Architectures et méthodes pour le test de systèmes complexes
Sources bibliographiques
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