4. Architectures et méthodes pour le test de systèmes complexes
L’évolution des modèles de fautes pour les technologies récentes a été présentée dans l’article [E 2 460] (§
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Architectures et méthodes pour le test de systèmes complexes
Sources bibliographiques
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(1) - AZAIS (F.), BERNARD (S.), FLOTTES (M.L.), GIRARD (P.), LANDRAULT (C.), LATORRE (L.), PRAVOSSOUDOVITCH (S.), RENOVELL (M.), ROUZEYRE (B.) - Test de Circuits et de Systèmes Intégrés. - Éditions Hermes Science, ISBN 2-7462-0864-4 (2004).
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