2. Norme IEEE 1149.1 boundary scan
Différence majeure avec ce qui précède, les dispositifs de la norme IEEE 1149.1 ne sont pas destinés en priorité au test du circuit lui-même, mais au support de la testabilité des cartes et des équipements. Cette utilisation hiérarchique dans un produit n'est pas détaillée ici ; on présente dans ce paragraphe les concepts de base de l’approche et les principaux éléments à intégrer dans un circuit pour qu’il soit compatible avec cette norme. Nous détaillons les aspects architecturaux de ce standard pour permettre une meilleure compréhension de la section suivante dédiée au test des systèmes intégrés sur puce. En effet, les standards qui ont été définis par la suite reprennent une partie des principes de cette norme pour résoudre les problèmes d’observabilité et de contrôlabilité. Néanmoins, pour plus de détails, la référence...
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Norme IEEE 1149.1 boundary scan
Exemples d’utilisation des techniques de conception en vue de la testabilité
Sources bibliographiques
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