Cadre physique de la métrologie en compatibilité électromagnétique - Descriptif général

La métrologie suivie en compatibilité électromagnétique, appelée succinctement « métrologie CEM », couvre un domaine d’application tellement varié qu’il est bien illusoire d’en détailler le contenu dans l’espace d’un seul article. Ces raisons ont donc conduit l’auteur à limiter l’exposé à l’évaluation de l’émission ou de l’immunité électromagnétique d’un appareil électronique ainsi qu’aux mesures des ondes radiofréquences porteuses de champs faibles ou de champs forts .

Au regard de la terminologie officielle, on rappellera que l’émission s’adresse aux champs électromagnétiques indésirables rayonnés à distance d’un appareil et capables d’engendrer des interférences pouvant altérer le fonctionnement d’un appareil voisin.

Inversement, l’immunité d’un appareil caractérise son aptitude à présenter un fonctionnement inaltéré en présence de champs électromagnétiques répondant à une gamme de fréquences et à une intensité préalablement fixées par un protocole d’essai.

Le sujet sera développé en deux parties bien distinctes composant deux articles reliés par des propriétés physiques communes.

Dans la première partie exposée ci-après et intitulée « Descriptif général », le texte aborde les protocoles de mesures d’émission et d’essais d’immunité électromagnétique ainsi que les antennes réceptrices utilisées lors de mesures pratiquées aux basses fréquences.

La seconde partie contenue dans l’article  [R 935] est intitulée « Analyse des phénomènes », l’objectif vise à expliquer la contribution des différents facteurs physiques agissant à l’échelle des principaux composants passifs ou actifs constituant l’appareil sous test.

Revenons sur la première partie pour procéder à un bref descriptif du premier paragraphe. On cherchera tout d’abord à définir ce que représente un appareil soumis à une mesure d’émission ou à un essai d’immunité....