5. Expérimentation et test des circuits à temps négatif numériques
Des expériences et des tests de validation de notre CTN PB numérique ont été effectués. Ces tests sont basés sur l’utilisation du microcontrôleur STM32® fabriqué par STMicroelectronics®. Les résultats de notre étude pratique sont décrits dans la présente section.
5.1 Prototypage d’un circuit à temps négatif numérique
La carte Nucleo L476RG intégrant le MCU STM32L476RG fabriqué par STMicroelectronics® a été utilisée pour cette étude pratique . Le boîtier MCU est un CI à 64 broches. La figure 9...
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Expérimentation et test des circuits à temps négatif numériques
Exemples d’applications potentielles des circuits à temps négatif numériques
Sources bibliographiques
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