2. Méthodes de mesure normalisées
Nous passons en revue dans ce paragraphe les différentes normes existantes ou en cours de standardisation traitant spécifiquement des mesures de compatibilité électromagnétique au niveau des composants. Ces normes résultent d’une demande de la part des utilisateurs de circuits intégrés (CI) de disposer de méthodes de caractérisation fiables et reproductibles, peu coûteuses de mise en œuvre, permettant de comparer les performances des composants selon différents fournisseurs, mais aussi de prédire les performances CEM à des niveaux plus élevés : circuit imprimé, sous-système voire système. Les fabricants de circuits intégrés mettent à la disposition des clients les résultats de mesure CEM utilisant les méthodes normalisées. L’IEC conduit cinq projets principaux listés ci-dessous :
IEC 61967 : Méthodes de mesure de l’émission des composants ;...
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Méthodes de mesure normalisées
Modélisation de l’émission
Sources bibliographiques
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