4. Modélisation de l’immunité des composants
Les circuits intégrés (CI) sont une des causes principales des émissions électromagnétiques conduites ou rayonnées par les équipements, et correspondent aux éléments sensibles lorsque l’on s’intéresse à l’immunité des mêmes composants. Les perturbations vues au niveau du CI, sont issues d’une propagation des perturbations provenant de l’extérieur du système, ou générées par un des autres éléments du système. Jusqu’à quelques gigahertz on peut supposer que les mécanismes de couplage restent dominants sur les faisceaux et pistes des circuits imprimés (relatif aux longueurs d’ondes), ce qui incite à considérer le mode conduit avant tout pour la caractérisation et la modélisation des composants.
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Modélisation de l’immunité des composants
Conclusion
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