3. Microscopie optique en champ proche
Au début des années 1980 sont apparues de nouvelles générations de microscopes à balayage dont les résolutions latérale et longitudinale sont à l’échelle atomique. Le premier en date de ces instruments (STM ou Scanning Tunneling Microscope) met en œuvre l’effet tunnel électronique. Si l’on considère la surface d’un conducteur, il y existe un nuage d’électrons dont la densité décroît exponentiellement avec la distance à la surface. En approchant à quelques dixièmes de nanomètre une autre surface conductrice et, en particulier, une pointe de dimension théoriquement monoato-mique, les nuages d’électrons correspondant aux deux conducteurs se mélangeant, il leur est possible de franchir une barrière de potentiel (effet tunnel). Cela donne naissance à un courant électrique décroissant exponentiellement avec la distance, ce qui permet de mesurer par balayage le profil...
Cet article est réservé aux abonnés. Il vous reste 92 % à découvrir.
Déjà abonné ? Se connecter
Microscopie optique en champ proche
Bibliographie
Cet article est réservé aux abonnés. Il vous reste 92 % à découvrir.
Déjà abonné ? Se connecter
Article inclus dans l'offre
"Mesures mécaniques et dimensionnelles"
(
158 articles
)
Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques.
Quiz, médias, tableaux, formules, vidéos, etc.
Opérationnels et didactiques, pour garantir l'acquisition des compétences transverses.
Un ensemble de services exclusifs en complément des ressources.
