2. Applications
La possibilité d’étude de surfaces avec une résolution extrême en utilisant les techniques de microscopie à force atomique a conduit à l’émergence d’une profusion de techniques reliées utilisant des sondes à interaction locale. L’univers des techniques de détection locale et de microscopie de type AFM est décrit sur la figure 18.
2.1 Propriétés locales
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Conclusion
Bibliographie
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