Conclusion
Microscopie à force atomique (AFM)

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R1394 V1 Article de référence

Conclusion
Microscopie à force atomique (AFM)

Auteur(s) : Jean-Claude RIVOAL, Christian FRÉTIGNY

Relu et validé le 12 mai 2026 | Read in english

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3. Conclusion

Dans cette brève exploration des applications de la microscopie à force atomique, nous avons illustré quelques-unes des possibilités offertes par cette technique qui a vu le jour depuis moins de vingt ans. La possibilité d’imager des surfaces avec une résolution, transversale et verticale, de l’ordre du nanomètre a conduit à une moisson de résultats originaux.

Ce développement technologique nous a permis de nous habituer à l’idée qu’une ingénierie peut être conduite à une échelle trop petite pour être vue à l’œil nu, tout en utilisant des principes (mécanique, électricité, hydraulique, optique, tribologie, magnétisme…) familiers dans le monde macroscopique. Les domaines d’utilisation sont variés : physique, chimie, biologie, etc. Le développement d’appareils commerciaux se poursuit en parallèle aux recherches exploratoires pour augmenter la capacité d’acquisition,...

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