1. Rappels sur les paramètres S
Les paramètres S (de l’anglais Scattering parameters ), coefficients de répartition ou de dispersion, sont sans conteste l’un des outils les plus importants pour la conception, la réalisation et la caractérisation des dispositifs micro-ondes. Les paramètres S peuvent être mesurés simplement à l’aide d’un analyseur de réseau vectoriel (ARV). Quand ce dernier est rigoureusement étalonné, les paramètres S mesurés représentent les propriétés intrinsèques du dispositif, indépendantes de l’ARV qui a servi à sa caractérisation. En effet, grâce aux procédures d’étalonnage, il est possible d’éliminer les erreurs systématiques dues à l’ARV et d’extraire l’ensemble des paramètres qui déterminent le comportement du dispositif, tels que le gain, les pertes, le facteur de réflexion, indépendamment du système de mesure.
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Rappels sur les paramètres S
Problème du dispositif non linéaire
Sources bibliographiques
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