3. Principe général de la microscopie à force atomique en mode contact
La microscopie à force atomique fait partie de la grande famille des microscopies en champ proche qui partagent la caractéristique d’être fondées sur un même principe : l’approche d’une sonde de taille nanométrique au plus près de la surface à étudier . La sonde est posée sur la surface dans le cas du mode appelé « mode contact », elle se tient en moyenne à quelques nanomètres (jusqu’à quelques dizaines de nanomètres) dans le cas des modes dits « non contact » ou « contact intermittent ». Il n’entre pas dans l’objectif de cet article de décrire en détails la microscopie à force atomique, aussi nous attacherons-nous à en donner uniquement les rudiments, notamment ceux qui concernent le mode contact sur lequel est basée la cartographie de la polarisation ferroélectrique. On trouvera plus d’informations dans...
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Principe général de la microscopie à force atomique en mode contact
Cartographie de la polarisation ferroélectrique par PFM
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