6. Glossaire
AFM ( Atomic Force Microscopy )
La microscopie à force atomique est une technique de microscopie basée sur l’utilisation d’une pointe solidaire d’un levier, approchée au contact ou à une très faible distance (quelques nanomètres) de la surface à étudier. Le contrôle de le déflexion du levier permet de réaliser une cartographie de la topographie avec une résolution spatiale nanométrique.
DFRT ( Dual Frequency Resonance Tracking )
Le mode DFRT permet de décaler la fréquence d’excitation électrique de l’échantillon piézoélectrique de manière que la distance entre la fréquence d’excitation et la fréquence de résonance du système reste constante.
C-AFM (...
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Sources bibliographiques
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