Sommaire
1. Méthodes de mesure par mise en contact
1.1 Sonde épaisse anisotherme
1.2 Sonde isotherme (petit corps chaud)
2. Méthode du plan chaud
2.1 Principe général
2.2 Modèle thermocinétique
2.3 Sensibilité aux paramètres
2.4 Identification des paramètres
2.5 Précautions à prendre
2.6 Montage asymétrique
3. Méthodes dérivées du plan chaud
3.1 Méthode de la source plane dynamique
(Dynamic Plane-Source)
3.2 Source plane dynamique étendue
(Extended Dynamic Plane-Source)
3.3 Plan chaud avec source et capteur séparés
4. Méthodes dérivées du fil chaud
4.1 Fil chaud avec source et capteur séparés
4.2 Fil chaud asymétrique gardé
5. Méthode du ruban chaud
5.1 Ruban chaud instationnaire sur matériau épais
5.2 Ruban chaud instationnaire sur plaque mince et conductrice
5.3 Méthode 3
ω
6. Rectangle chaud, disque chaud (
Hot Disk
)
7. Sonde sphérique active
Notations et symboles
Pour en savoir plus
Parmi les
méthodes avec contact
, il y a celles où la perturbation thermique est assurée par la
mise en contact
avec un deuxième corps à température différente, et celles où cette perturbation est assurée par une
source de chaleur
fixée à l’éprouvette à caractériser. Cette source de chaleur, généralement avec effet Joule, est soit pressée à la surface, soit insérée entre deux éprouvettes du même matériau.
Nous renvoyons le lecteur au dossier [R 2 850], réf. [5] pour la classification des méthodes de caractérisation thermique selon la perturbation choisie : perturbation de type échelon (flux constant), de type Dirac (flux impulsionnel) et de type modulé (analyse du régime périodique), auxquelles on peut aussi ajouter les perturbations de type aléatoire.
De même, les méthodes peuvent être classées suivant que la grandeur mesurée est une
température
ou un
flux...