Microscopie optique en champ proche - Principe

Ajouter à la bibliothèque

P862 V2 Article de référence

Microscopie optique en champ proche - Principe

Auteur(s) : Jérôme SALVI, Daniel VAN LABEKE

Date de publication : 10 septembre 2014

Ajouter à la bibliothèque Ajouter à la bibliothèque

Logo Techniques de l'Ingenieur Cet article est réservé aux abonnés
Pour explorer cet article plus en profondeur Consulter un extrait gratuit

Déjà abonné ?

Présentation

RÉSUMÉ

La microscopie optique en champ proche permet d’atteindre une résolution sub-longueur d’onde (interdite en microscopie optique classique) grâce à une sonde locale qui détecte un signal non radiatif confiné au voisinage immédiat de la surface de l’échantillon. La sonde balaie cette surface à une distance ou hauteur de quelques nanomètres : il est  donc nécessaire d’avoir une boucle de contre-réaction efficace qui permet de suivre la topographie de l’objet. Un microscope champ proche offre ainsi une image topographique de la surface en plus de sa caractérisation optique à l’échelle nanométrique. Cet article présente le principe des microscopes optiques en champ proche, les différentes configurations possibles ainsi qu’une large palette des sondes potentielles suivant l’application requise.

AUTEUR(S)

  • Jérôme SALVI : Maître de conférences FEMTO-ST, université de Franche-Comté, Besançon, France

  • Daniel VAN LABEKE : Professeur émérite FEMTO-ST, université de Franche-Comté, Besançon, France

 INTRODUCTION

Sommaire

1. Différentes configurations expérimentales

1.1 Microscopes fonctionnant par transmission

1.2 Microscopes fonctionnant par réflexion et microscopes sans ouverture

1.3 Autres configurations

2. Principe

2.1 Décomposition en spectre d’ondes planes

2.2 Champ lointain et champ proche

2.3 Microscopie en champ lointain et microscopie en champ proche

2.4 Distance sonde-objet et résolution

2.5 Modèles théoriques

2.6 Remarques sur la résolution

3. Instrumentation

3.1 Dispostitif de balayage

3.2 Filtrage des vibrations parasites

3.3 Source de lumière

3.4 Détection

3.5 Asservissement de la pointe

3.6 Sondes et pointes

3.6.1 Types de sonde et fabrication

3.6.2 Nano-antennes

3.6.3 Autres types de pointes

4. Conclusion

Pour en savoir plus

En 1981, Binnig et Rohrer inventent le microscope électronique à effet tunnel STM (Scanning Tunneling electronic Microscope). Leur découverte va provoquer un renouveau de la recherche en microscopie et donner naissance à de nombreux microscopes fondés sur un principe complètement nouveau. En fait, on peut considérer que leur invention puis celle du microscope à force atomique en 1985 AFM (Atomic Force Microscope) marquent la naissance d'une nouvelle microscopie : la microscopie à sonde locale ou en champ proche . Dans un microscope traditionnel, la partie la plus importante est une lentille, l'objectif. L'objet est éclairé par réflexion ou par transmission et l'objectif capte le champ diffracté par l'objet pour en faire une image. La lumière étant une onde, la diffraction par l'objectif limite le pouvoir de résolution du microscope : le critère de Rayleigh interdit de séparer deux points de l'objet plus rapprochés que la demi-longueur d'onde. En lumière visible, le pouvoir séparateur est théoriquement de l'ordre de 0,25 μm et, pratiquement, est rarement inférieur à un micromètre. Un microscope à champ proche utilise une sonde, très fine , qui est déplacée au voisinage de l'objet (en champ proche), pour l'éclairer ou en capter un signal. Ces microscopes sont des microscopes à balayage  ; l'image est obtenue en déplaçant point...

Cet article est réservé aux abonnés
Logo Techniques de l'Ingenieur

Cet article est réservé aux abonnés. Il vous reste 92 % à découvrir.

Cet article est réservé aux abonnés Consulter un extrait gratuit

Déjà abonné ?


MOTS-CLÉS

Champ proche optique   |   Résolution   |   Nano-antennes   |   biologie   |   spectroscopie   |   Nano-optique   |   photonique   |   Piezoélectricité

VERSIONS

Il existe d'autres versions de cet article :

DOI (DIGITAL OBJECT IDENTIFIER)

https://doi.org/10.51257/a-v2-p862

Lecture en cours
Microscopie optique en champ proche - Principe

Article inclus dans l'offre

"Techniques d'analyse"

( 389 articles )

Une base complète d’articles

Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques.

Services

Quiz, médias, tableaux, formules, vidéos, etc.

Des modules pratiques

Opérationnels et didactiques, pour garantir l'acquisition des compétences transverses.

Des avantages inclus

Un ensemble de services exclusifs en complément des ressources.

Voir le détail de l'offre

Dans les ressources documentaires

Microscopie électronique à balayage - Principe et équipement

La microscopie électronique à balayage MEB, est une technique puissante d'observation de la sur...

Microscopie électronique à balayage - Images, applications et développements

La microscopie électronique à balayage est un outil puissant d'observation des surfaces. Les im...

Microscopie à sonde locale

Cet article traite de la microscopie en champ proche ou à sonde locale. Ce type de microscopie est basé s...

Microscopie acoustique

La microscopie acoustique regroupe plusieurs modalités d’imagerie acoustique qui poursuivent le même but&...

Tous les livres blancs
Toutes les actualités

Inscrivez-vous aux newsletters !

Contactez-nous