4. Sondes à champ proche
Les microscopes à champ proche ( scanning probe microscopes ), développés depuis les années 1980, ont en commun l'utilisation d'une pointe extrêmement fine amenée à proximité d'une surface, dont la position est balayée le long de celle-ci pour obtenir une cartographie bidimensionnelle d'une propriété spécifique reliée à l'interaction pointe surface (figure 9 , ). Cette propriété peut être un courant tunnel entre une pointe polarisée électriquement et une surface...
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Sondes à champ proche
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Sources bibliographiques
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