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Détection automatique de défauts en tomographie par intelligence artificielle

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SF1500 V1 Article de référence

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Détection automatique de défauts en tomographie par intelligence artificielle

Auteur(s) : Valérie KAFTANDJIAN, Abdel Rahman DAKAK, Philippe DUVAUCHELLE

Relu et validé le 2 juillet 2025 | Read in english

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7. Discussion

Dans l’approche globale proposée, les indications sont d’abord détectées, puis classées, et leur caractérisation (non détaillée ici) se fait en dernier lieu pour pouvoir finalement accepter ou non la pièce selon le cahier des charges industriel. D’autres approches dites « machine learning » ou « apprentissage par machine » sont également considérées comme faisant partie de la famille de l’Intelligence Artificielle et méritent d’être discutées. Dans ces méthodes, les discontinuités sont segmentées, puis leurs caractéristiques sont calculées pour être utilisées en entrée d’un classifieur. Ainsi, Zhao et al

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