Métallographie par diffraction des rayons X, des électrons et des neutrons

Introduction

1. Diffraction des rayons X

1.1 Production, détection et mesure des rayons X

1.1.1 Production des rayons X. Spectre de rayons X

1.1.2 Absorption des rayons X

1.1.3 Détection et mesure des rayons X (écrans fluorescents, films photographiques, compteurs)

1.2. Diffraction des rayons X par les cristaux

1.2.1 Conditions de diffraction. Loi de Bragg

1.2.2 Remarques sur la loi de Bragg

1.2.3 Intensité des réflexions

1.2.5 Méthodes expérimentales de diffraction des rayons X utilisées en métallographie

1.3 Méthode de Debye-Scherrer

1.3.1 Principe de la méthode

1.3.2 Identification des raies d’un cliché de poudres

1.3.3 Mesures de précision des paramètres cristallins

1.3.4 Applications des mesures de précision des paramètres cristallins

1.3.5 Description de la texture des polycristaux

1.3.6 Taille des cristaux

1.3.7 Description de la microstructure. Analyse de l’élargissement des raies de diffraction des rayons X

1.3.8 Dosage des phases

1.4 Diagrammes de diffraction des monocristaux

1.4.1 Méthode du cristal tournant

1.4.2 Méthode de Laue

1.4.3 Lignes de Kossel

1.5 Détermination de la structure d’un corps

2. Diffraction des électrons et des neutrons

2.1 Applications de la diffraction des électrons

2.1.1 Caractéristiques des faisceaux d’électrons

2.1.2 Comparaison avec les rayons X

2.1.3 Applications

2.2 Applications de la diffraction des neutrons

2.2.1 Caractéristiques des faisceaux de neutrons

2.2.2 Comparaison avec les rayons X

2.2.3 Applications

3. Sécurité dans la manipulation des rayonnements

Documentation

Bien que l’unité SI de longueur d’onde soit le nanomètre (1 nm = 10-9 ml. nous avons utilisé, dans cet article, l’angström (1 Â = 10- 10 m = 0,1 nm). celle unité étant du même ordre de grandeur que les distances interatomiques dans les cristaux métalliques,

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