Article

1 - PRINCIPE DE LA DIFFRACTION DES POUDRES

  • 1.1 - Théorie de la diffraction des rayons X
  • 1.2 - Direction du faisceau diffracté
  • 1.3 - Intensité des raies diffractées

2 - MÉTHODES EXPÉRIMENTALES DE DIFFRACTION DES POUDRES

3 - IDENTIFICATION DES PHASES

  • 3.1 - Description des fichiers
  • 3.2 - Méthodes d’identification de phases
  • 3.3 - Limites des méthodes de recherche de phases

4 - ANALYSE QUANTITATIVE

  • 4.1 - Effets de matrice
  • 4.2 - Échantillons polymorphes
  • 4.3 - Méthodes avec étalon

5 - APPLICATIONS CRISTALLOGRAPHIQUES

  • 5.1 - Indexation des diagrammes de poudres
  • 5.2 - Détermination précise des paramètres du réseau cristallin
  • 5.3 - Taille des cristallites et microcontraintes

6 - MESURE DES CONTRAINTES RÉSIDUELLES. TENSIONS INTERNES

7 - ÉTUDE DES ORIENTATIONS PRÉFÉRENTIELLES

Article de référence | Réf : P1080 v2

Caractérisation de solides cristallisés par diffraction X

Auteur(s) : Norbert BROLL

Date de publication : 10 avr. 1996

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Présentation

Auteur(s)

  • Norbert BROLL : Docteur ès Sciences - Directeur du laboratoire d’analyse de matériaux de la société FORTEX - Chargé d’enseignement et de recherche à l’École Nationale Supérieure des Arts et Industries de Strasbourg

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INTRODUCTION

Lanalyse non destructive d’échantillons cristallisés par diffraction des rayons X est une méthode puissante pour résoudre de nombreux problèmes industriels et technologiques. Au début, cette technique était surtout utilisée pour déterminer, à partir d’échantillons monocristallins, les structures des cristaux. Par la suite, d’autres applications concernant la caractérisation des matériaux polycristallins ont été développées.

Parmi les appareils utilisés actuellement, c’est certainement le diffractomètre pour poudres qui est le plus courant dans les laboratoires industriels et universitaires.

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VERSIONS

Il existe d'autres versions de cet article :

DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v2-p1080


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BIBLIOGRAPHIE

  • (1) - GUINIER (A.) -   Théorie et technique de la radiocristallographie.  -  1956 Dunod, Paris.

  • (2) - CULLITY (B.D.) -   Elements of X-Ray diffraction.  -  1956 Addison-Wesley Publishing Company, Inc.

  • (3) - NEFF (H.) -   Grundlagen und Auswertung des Rönt-gen-Feinstruktur-Analyse.  -  1962 Oldenburg, München.

  • (4) - WILSON (A.J.C.) -   Mathematical theory of X-Ray powder diffractometry.  -  1963 Philips Technical Library, Eindhoven.

  • (5) - NUFFIELD (E.W.) -   X-Ray diffraction methods.  -  1966 John Wiley and Sons, New York.

  • (6) - KAELBLE (E.F.) -   Handbook of X-Rays.  -  1967 McGraw-Hill Book Company, New York.

  • (7)...

DANS NOS BASES DOCUMENTAIRES

  • Résolution d’une structure cristalline par rayons X.

  • Détermination de structure cristalline par rayons X : méthodes numériques.

  • Caractérisation des surfaces et des matériaux stratifiés par rayons X.

  • Cristallographie géométrique.

ANNEXES

    Constructeurs – Fournisseurs

    * - Alexandre LaboInelSiemens

    * - Anton PaarItal-structuresSocabim

    * - BühlerPhilipsStoe

    * - ElexienceSchimadzu

    * - HuberScintag

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