Analysis of stratified samples
Electron probe X-ray microanalysis - Applications and developments

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Analysis of stratified samples


Electron probe X-ray microanalysis - Applications and developments

Author : Jacky RUSTE

Publication date: June 10, 2009 | Lire en français

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5. Analysis of stratified samples

While conventional quantification procedures require a homogeneous sample in the analysis volume, f ( ρz ) models make it possible to analyze stratified samples, i.e. a succession of thin layers of constant thickness, with a total thickness of no more than a few microns.

For a layer buried between depths ρz i and ρz i+1 containing element A, we can, by definition of f (ρz ), write that the characteristic emergent intensity of the element under consideration coming from layer i is equal to :

Ifilm i=CACte j=i1j=1exp[(χAiχAj)Δρzj]ρzi+1ρziϕA(ρz)exp[χAiρz]dρz
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