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# MEB

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Articles de références et fiches pratiques à propos de : MEB

Imagerie par contraste de canalisation des électrons [...]
Réf : M4145

La caractérisation dans un microscope électronique à balayage des défauts cristallins - dislocations, défauts d’empilement, sous-joints de grains - dans un matériau massif a ouvert la voie à des avancées spectaculaires en sciences des matériaux. Cet article présente [...]

10 déc. 2021

Microscopie électronique à balayage
Réf : P866

La microscopie électronique à balayage est un outil puissant d'observation des surfaces. Les images de MEB peuvent être facilement associées à des microanalyses et cartographies élémentaires obtenues par spectrométrie des rayons X et diffraction des [...]

10 oct. 2024

Comparaison de mesures des dimensions caractéristiques [...]
Réf : R6741

Les microscopies à force atomique - AFM - et électronique à balayage - MEB - sont aujourd’hui des techniques très répandues pour la caractérisation des nano-objets. Afin d’obtenir des mesures fiables à ces échelles, la traçabilité et l’évaluation des incertitudes associées [...]

10 déc. 2022

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