L'article donne un bref aperçu des bases de la diffraction de Kikuchi, du dispositif expérimental en TEM et SEM, ainsi que de la préparation des échantillons. Les diagrammes de diffraction permettent de mesurer l'orientation des grains, d'étudier les désorientations aux joints de grains, de distinguer différents matériaux et d'obtenir des informations sur la perfection locale des cristaux, avec une résolution spatiale de quelques nanomètres en transmission (TKD) et de l'ordre de 10 nm en rétrodiffusion (BKD, EBSD).
La caractérisation dans un microscope électronique à balayage des défauts cristallins - dislocations, défauts d’empilement, sous-joints de grains - dans un matériau massif a ouvert la voie à des avancées spectaculaires en sciences des matériaux. Cet article présente l’imagerie par contraste de canalisation des électrons, notée ECCI, avec ses limites et ses avantages, les conditions techniques pour son optimisation ainsi que la réalisation des pseudodiagrammes de Kikuchi haute résolution obtenus par précession du faisceau d’électrons pour le contrôle des conditions de canalisation. L’apport de l’ECCI à la science des matériaux est illustré par l’analyse de quelques défauts cristallins.
Cet article passe en revue les différentes techniques fondées sur la microscopie à force atomique, capables de fournir une information électrique avec une résolution spatiale de l'ordre du nanomètre ou de la dizaine de nanomètres. Les grandeurs mesurées peuvent être le courant, la capacité, le champ ou le potentiel électrique. Chaque technique est décrite précisément au moyen d'exemples tirés de la recherche en micro-nanoélectronique, et le périmètre de ses performances est délimité. Les aspects métrologiques de telles mesures appliquées aux nanocircuits sont mis en avant, les sources d'erreur identifiées et des pistes d'amélioration proposées.
Vous allez définir un plan de contrôle, mais le résultat de certaines opérations de contrôle ne permet pas de déterminer le niveau de conformité du produit. C’est dans ce type de cas précisément que définir, construire et exploiter une défauthèque peut apporter la solution.
Amélioration des performances, Certification ISO 9001, Management intégré...
Cette fiche vous permettra de faire la différence entre les différents outils métrologiques, afin de disposer du moyen de contrôle ou de mesure le plus approprié pour le contrôle qualité de votre produit.
Comment déterminer le type de contrôle ou de mesure à mettre en œuvre pour votre produit ?
Les points suivants seront abordés :
Un outil incontournable pour comprendre, agir et choisir- Nouveauté !
En France, il est obligatoire depuis 2013, pour tout industriel mettant sur le marché plus de 100 g/an de substances à l’état nanoparticulaire, de réaliser une déclaration nano avant le 1er mai de chaque année. Cette déclaration doit être effectuée auprès de l’Agence nationale de sécurité sanitaire de l’alimentation, de l’environnement et du travail (Anses).
La déclaration est réalisée en ligne sur le site R-Nano par le déclarant.
Cette fiche explique comment effectuer cette déclaration.
Les fiches pratiques répondent à des besoins opérationnels et accompagnent le professionnel en le guidant étape par étape dans la réalisation d'une action concrète.
TECHNIQUES DE L'INGENIEUR
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![La déformation des matériaux observée pendant l’essai [Publireportage]](https://www.techniques-ingenieur.fr/actualite/wp-content/uploads/old_medias/articles/296518/La-deformation-des-materiaux-observee-pendant-l-essai-Publireportage.jpg)
