- ARTICLE INTERACTIF
|- 10 déc. 2021
|- Réf : M3040
L'article donne un bref aperçu des bases de la diffraction de Kikuchi, du dispositif expérimental en TEM et SEM, ainsi que de la préparation des échantillons. Les diagrammes de diffraction permettent de mesurer l'orientation des grains, d'étudier les désorientations aux joints de grains, de distinguer différents matériaux et d'obtenir des informations sur la perfection locale des cristaux, avec une résolution spatiale de quelques nanomètres en transmission (TKD) et de l'ordre de 10 nm en rétrodiffusion (BKD, EBSD).
- Article de bases documentaires
|- 10 déc. 2021
|- Réf : M4145
La caractérisation dans un microscope électronique à balayage des défauts cristallins - dislocations, défauts d’empilement, sous-joints de grains - dans un matériau massif a ouvert la voie à des avancées spectaculaires en sciences des matériaux. Cet article présente l’imagerie par contraste de canalisation des électrons, notée ECCI, avec ses limites et ses avantages, les conditions techniques pour son optimisation ainsi que la réalisation des pseudodiagrammes de Kikuchi haute résolution obtenus par précession du faisceau d’électrons pour le contrôle des conditions de canalisation. L’apport de l’ECCI à la science des matériaux est illustré par l’analyse de quelques défauts cristallins.
- Article de bases documentaires
|- 10 juin 2023
|- Réf : P895
Cet article traite de la microscopie en champ proche ou à sonde locale. Ce type de microscopie est basé sur la détection d'une propriété physique en surface (tel un courant électrique, une force, des photons) à l'échelle locale. Son principe est très différent de celui des microscopes classiques, une pointe vient sonder les informations à l’extrême surface de l'échantillon. La technique a considérablement évolué depuis l'avènement des nanotechnologies et elle apporte maintenant de nombreuses réponses sur les propriétés des matériaux à l'échelle de la molécule ou de l'atome.