Essais CEM au niveau équipement

Pratiquer des essais de compatibilité électromagnétique demande une préparation sans faille. Les difficultés rencontrées peuvent être multiples et inattendues. Le manque de préparation, l'installation de l'équipement sous test qui peut être hasardeuse ou non figée, la sensibilité des moyens mis en œuvre pour contrôler l'équipement sous test, la pollution électromagnétique générée par ces équipements de contrôle, le mode de fonctionnement de l'équipement sont autant d'éléments qui peuvent amener à des essais ne permettant pas de tester un système dans les conditions attendues.

Tous ces éléments amènent à des configurations de test qui compliquent la reproductibilité (problématique d'une installation identique pour des essais effectués dans différents laboratoires, ou différentes cages de Faraday) d'un essai.

Ces problèmes de reproductibilité sont encore plus évidents lors des essais de mesure (marquage CE) du champ électrique en cage de Faraday à des distances de un ou trois mètres, avec une hauteur d'antenne fixe (en général un mètre) et la face avant de l'équipement (par convention) présentée à l'antenne. Ces essais doivent être confirmés par des essais en espace libre à une distance de dix mètres, avec une hauteur d'antenne variable entre un et quatre mètres et une variation de la face de l'équipement présenté à l'antenne qui peut varier de 360 degrés. L'objectif de ces variations est la maximisation de chaque fréquence mesurée. Pour des mesures au-delà de quelques centaines de mégahertz, il peut être constaté des variations de plusieurs dizaines de décibels à cause de la directivité des perturbations mesurées (rayonnement de fente d'un boîtier par exemple).

Un des autres problèmes rencontrés est celui des équipements testés en phase de prototypage, c'est-à-dire quelquefois assez éloignés de leur futur état d'industrialisation, ce qui ne permet pas de statuer sur la conformité de l'équipement final. Les essais pratiqués sur des cartes électroniques comportant des modifications filaires montrent qu'elles ont un comportement différent des cartes finales. En effet, le cycle en V démontre qu'il n'y a aucun intérêt à tester un prototype dont on n'a pas pu démontrer la représentativité. Toutefois, bon nombre de sociétés n'ont pas encore adopté le cycle en V dans leur processus qualité de développement pour la CEM. De plus, des nombreux concepteurs ne se rendent pas compte de l'impact que peut avoir le simple changement de technologie d'un condensateur sur certains des résultats obtenus en essais CEM.

Tous ces essais peuvent durer longtemps, ce qui a un impact sur le coût. L'objectif de cet article est donc de sensibiliser aux bonnes pratiques d'installation, ainsi que d'identifier les points clés pour éviter les erreurs...