5. Évolutions et défis pour le test
La mise en œuvre des techniques et concepts de base présentés ci-avant s'est heurtée ces deux dernières décades à un certain nombre de contraintes dues essentiellement à la réduction continue des tailles de transistors, mais aussi à l'apparition de nouveaux matériaux et de nouvelles pratiques de conception. Maintenir une haute fiabilité des circuits produits passe désormais par une adaptation des techniques de test pour une intégration dans des applications plus nombreuses, plus variées et plus exigeantes. Les problématiques les plus significatives rencontrées et quelques solutions apportées sont brièvement décrites ci-après. Pour plus d'informations, le lecteur peut se référer aux articles référencés dans la section bibliographique.
5.1 Variabilité de la fabrication : impacts sur la conception...
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Évolutions et défis pour le test
Conclusion
Sources bibliographiques
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