6. Conclusion
Le test des circuits intégrés est en perpétuelle évolution. Les techniques s'appuient toujours sur les méthodes et les concepts de base (modélisation, algorithmes de génération de vecteurs), mais elles doivent à chaque fois prendre en compte les caractéristiques des circuits testés : quelle technologie ? quel matériau ? pour quelle application ? Il est possible aujourd'hui, malgré les dimensions nanométriques des transistors, d'obtenir des taux de défauts très petits (moins d’une dizaine de ppm).
La génération d’un programme de test efficace est une tâche fondamentale dévolue aujourd’hui au concepteur. Le choix des modèles de fautes considérés et les stratégies de test mises en œuvre influencent profondément la qualité du produit livré aux clients.
Il est donc aujourd’hui très important que les concepteurs soient formés pour être capables...
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