Vecteurs de test, modèles de fautes et taux de couverture
Test des circuits intégrés numériques - Notions de base et évolutions

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Vecteurs de test, modèles de fautes et taux de couverture
Test des circuits intégrés numériques - Notions de base et évolutions

Auteur(s) : Mounir BENABDENBI, Régis LEVEUGLE

Relu et validé le 14 septembre 2021 | Read in english

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2. Vecteurs de test, modèles de fautes et taux de couverture

2.1 Vecteurs et séquences de test

La figure  1 schématise le principe d’application du test d’un circuit, ou d’un bloc à l’intérieur d’un circuit ; des valeurs sont appliquées sur les entrées, et les résultats obtenus sur les sorties sont comparés à des valeurs prédéterminées. Ceci correspond respectivement à un vecteur d’entrée V a (stimuli) et un vecteur de sortie V s (référence). Un vecteur de test est composé de ces deux vecteurs : V ...

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