Transistors bipolaires intégrés

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Transistors bipolaires intégrés

Auteur(s) : Jean de PONTCHARRA

Date de publication : 10 novembre 1998

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AUTEUR(S)

  • Jean de PONTCHARRA : Docteur de l’Université de Grenoble - Chercheur au CEA-LETI Filières BiCMOS submicroniques

 INTRODUCTION

La fabrication de circuits intégrés a bénéficié de progrès très importants liés aux investissements en recherche et développement dans le domaine des infrastructures (salles blanches ultra-propres), des matériaux (semi-conducteurs, isolants, conducteurs, résines photosensibles, produits chimiques...), des machines (lithographie, gravure, recuit, implantation ionique, dépôts, métrologie...), de la conception des circuits (logiciels), de la caractérisation électrique et physique, de la simulation technologique et électrique (logiciels). Le diamètre des plaquettes de silicium traitées dans les unités de fabrication dans les années 1990 atteint 200 mm avec des prévisions de passage en 300 mm vers l’an 2000. Les puces actuelles ont des surfaces de quelques centimètres carrés et intègrent des millions de transistors (Pentium d’Intel 1994, 3 millions de transistors ; Pentium II 1997, 5 millions sur 3 cm 2  ; processeur K6 d’AMD 1997 8,8 millions sur 1,7 cm 2 ).

Devant la concurrence des structures MOS (Metal Oxide Semiconductor) (très forte densité d’intégration, faible consommation), la fin du transistor bipolaire était annoncée. Cependant la technologie des transistors bipolaires a bénéficié des mêmes avancées techniques, lui permettant de se maintenir dans les applications analogiques rapides et faible bruit et dans les applications mixtes logique-analogique en association avec des transistors MOS dans les circuits BiCMOS. Dans les applications pour les télécommunications, la tendance actuelle est aux systèmes portables impliquant une faible tension d’alimentation (1,5 à 1 V) et une très faible consommation tout en maintenant de très hautes performances en fréquence et de faibles niveaux de bruit.

Il est intéressant de faire une rapide comparaison du transistor bipolaire à jonctions (BJT, Bipolar Junction Transistor) et du transistor à effet de champ à grille isolée (MOSFET, Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor, par abréviation MOS). La figure A présente un schéma simplifié des deux structures avec les notations usuelles pour les dimensions de grille et d’émetteur. La partie active du MOS se trouve en surface du semi-conducteur, celle du bipolaire en volume et le courant vertical est récupéré par le collecteur et ramené en surface. Donc, par nature, le transistor MOS est sensible aux contaminations de surface (propreté des oxydes et des couches, des procédés) et à l’état de surface (rugosité). Alors que le transistor bipolaire est plus sensible à la qualité cristalline du matériau de volume (phénomènes de recombinaison électron-trou) et donc aux défauts et impuretés (métaux en règle générale) pouvant diffuser rapidement dans le volume...

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https://doi.org/10.51257/a-v1-e2427

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