Autres microscopies en mode contact
Imagerie de surface de polymères : microscopie à force atomique

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AM3280 V1 Article de référence

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Imagerie de surface de polymères : microscopie à force atomique

Auteur(s) : Ghislaine COULON

Date de publication : 10 janvier 2000 | Read in english

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3. Autres microscopies en mode contact

3.1 Microscope à force latérale (LFM)

Pour les matériaux peu fragiles, le microscope à force latérale (LFM, Lateral Force Microscopy ) permet de visualiser les zones de coefficients de frottement différents sur la surface de matériaux hétérogènes [7]  ; l’image est obtenue par mesure de la composante tangentielle de la force d’interaction pointe-surface (figure 7 a ).

Au cours du balayage de l’échantillon, le ressort subit une...

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