3. Autres microscopies en mode contact
Pour les matériaux peu fragiles, le microscope à force latérale (LFM,
Lateral Force Microscopy
) permet de visualiser les zones de coefficients de frottement différents sur la surface de matériaux hétérogènes
[7]
; l’image est obtenue par mesure de la composante
tangentielle
de la force d’interaction pointe-surface (figure
7
a
).
Au cours du balayage de l’échantillon, le ressort subit une...
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Autres microscopies en mode contact
Références bibliographiques
-
(1) - BINNIG (G.), QUATE (C.F.), GERBER (C.) -
Atomic force microscope.
-
Phys. Rev. Lett.,
12
, p. 930-933 (1986).
-
(2) - MIZES (H.A.), LOH (K.J.), MILLER (R.J.P.), AHUJA (S.K.), GRABOWSKI (E.F.) -
Submicron probe...
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