4. Microscopie en mode non-contact (ou résonnant)
Pour éviter le frottement pointe-surface et pouvoir imager la surface de matériaux fragiles, le microscope résonnant (non-contact) a été mis au point quasiment à la même époque que le microscope à force atomique en mode contact « classique »
Au lieu de mesurer des déflexions statiques du ressort, comme dans le mode contact (AFM), le ressort est ici forcé d’osciller à une fréquence voisine de sa fréquence propre, l’amplitude de l’oscillation est faible (quelques nanomètres). En présence de la force...
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Microscopie en mode non-contact (ou résonnant)
Microscopie en mode intermittent (TM)
Références bibliographiques
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