Microscopie en mode contact « classique » (AFM)
Imagerie de surface de polymères : microscopie à force atomique

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Microscopie en mode contact « classique » (AFM)
Imagerie de surface de polymères : microscopie à force atomique

Auteur(s) : Ghislaine COULON

Date de publication : 10 janvier 2000 | Read in english

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2. Microscopie en mode contact « classique » (AFM)

Par souci de clarté, le principe de fonctionnement du microscope à force atomique sera développé ici dans le cas du microscope à force atomique en mode contact, mis au point par Binnig, Quate et Gerber en 1986. Les versions ultérieures du microscope à force atomique seront décrites ensuite plus rapidement avec des exemples d’application.

.Mesure de la force normale à la surface en AFM
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