1. Corps d'épreuve
Jauges métalliques collées : 1954
Jauges semi-conductrices : 1954
Détecteur inductif LVDT : 1960
Jauges semi-conductrices diffusées dans la membrane silicium : 1960
Jauges déposées en couches minces : 1968
Capteur capacitif : 1974
Jauges déposées en couches épaisses : 1975
Puce en silicium micro-usiné : 1980
Quartz vibrant : 1983
Bus de terrain : 1990
MEMS/MOMS : 2000
Liaisons radio/Interconnexion réseaux :...
Cet article est réservé aux abonnés. Il vous reste 92 % à découvrir.
Déjà abonné ? Se connecter
Du principe de détection au capteur et transmetteur
Sources bibliographiques
Cet article est réservé aux abonnés. Il vous reste 92 % à découvrir.
Déjà abonné ? Se connecter
Article inclus dans l'offre
"Mesures physiques"
(
163 articles
)
Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques.
Quiz, médias, tableaux, formules, vidéos, etc.
Opérationnels et didactiques, pour garantir l'acquisition des compétences transverses.
Un ensemble de services exclusifs en complément des ressources.
