3. Défis et dernières tendances
3.1 Défis
Les techniques qui viennent d’être présentées permettent la caractérisation thermique de matériaux et dispositifs aux échelles micrométriques et nanométriques ; ces mesures sont toutefois difficilement traçables au sens métrologique [JCGM 200:2012] et sont parfois plus qualitatives que quantitatives. En fonction de l’information recherchée, il peut être nécessaire de mettre en œuvre de lourds protocoles de mesures et d’étalonnage. S’il s’agit de comparer des mesures ou d’observer...
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Défis et dernières tendances
Conclusion
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