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Mesurer, analyser et innover : CIM 2015

Posté le par La rédaction dans Entreprises et marchés

[17ème Congrès International de Métrologie]

Le 17ème Congrès International de Métrologie se tiendra cette année du 21 au 24 septembre à Paris-Porte de Versailles conjointement avec le salon Enova, le salon des technologies Electronique, Mesure, Vision et Optique.

Lieu d’échanges techniques entre les différents acteurs de la mesure (utilisateurs industriels de moyens de mesure, experts techniques, laboratoires publics et privés, fabricants et prestataires), ce congrès est unique en Europe.

Il présente les évolutions des techniques de mesure, les avancées R&D et leurs implications pour l’industrie, et montre comment la mesure améliore, au quotidien, les processus industriels et la maîtrise des risques.

6 tables rondes industrielles sont organisées autour de thématiques très variées :

  • Les bonnes pratiques en santé

  • Transition énergétique : la métrologie relève le défi

  • L’analyse sensorielle au service de la métrologie

  • Externaliser la fonction métrologie : rêve ou réalité ?

  • Agroalimentaire : le plus métrologique

  • Mesure et maîtrise des risques : nouvelle approche ISO 9001

Près de 180 conférences seront présentées sur des sujets très variés, abordant les grands  domaines  techniques  :  mécanique,  température,  dimensionnel  et  3D,  débit,  électricité, optique. Sans oublier les sujets répondant aux préoccupations actuelles : la sécurité dans le secteur médical et l’agroalimentaire, les défis liés à la transition énergétique, les nanotechnologies…

Plus de 1 000 participants venant d’une cinquantaine de pays sont attendus, l’occasion de mieux comprendre la mesure tout en entretenant son réseau.

Le CIM 2015 est organisé conjointement avec ENOVA, Les 2 organisateurs ont créé le point de rencontre entre le congrès et le Salon au cœur de l’exposition : le Village Métrologie.

Les temps forts du CIM 2015

  • L’animation quotidienne sur le Village Métrologie : sur cet espace ouvert à tous se retrouvent les visiteurs du salon, les exposants qui souhaitent se rapprocher du Congrès et les participants inscrits au CIM.

Les exposants enregistrés sur le Village Métrologie au 7 avril sont les suivants : A+ Métrologie, Acalime, Aérométrologie, Alicona, AOIP, Aremeca, Automated Precision Europe, Beamex, Bruker, Carl Zeiss, Cetiat, Cofrac, Czech Metrology Institute, Delta Mu, E+E Elektronik, E2M, Ecole Supérieure de Métrologie, Endress & Hauser, Eotech, Felix Informatique, Furness Controls, GE Measurement & Control, Geomnia, Guildline Instruments, Hexagon Metrology, Implex, Innovalia Metrology, Insavalor, Insidix, JRI, Kréon Technologies, LNE,  Manumesure,  MB  Electronique,  MCE  Microvu,  Measurements  International,  Meatest,  Metrologic Group, Mettler Toledo, Nikon Metrology, Olympus, Rotronic, Sematec, Sika France, Symetrie, Testo Industrial Services, TME, Trescal, Werth Messtechnik, Wika Instruments.

  • La session d’ouverture du 21 septembre avec 2 interventions sur des sujets émergeants en métrologie :

– La métrologie dans les services par le groupe La Poste

– Métrologie et criminalistique par la Police Judiciaire de la Gendarmerie Nationale

  • La  conférence  plénière  du  23  septembre  « Métrologie  4.0 »  avec  des  interventions  des  plus  grands organismes  mondiaux  de  métrologie –  le  NIST  américain,  le  NPL  anglais  et  la  PTB  allemande  –  sur  la métrologie de demain qui pointe déjà son nez dans notre quotidien …
  • L’intervention de Monsieur Claude Cohen Tannoudji, Prix Nobel de Physique 1997, lors de la session de Clôture du jeudi 24 septembre après-midi

Participer au CIM c’est …

  • rencontrer les « bonnes » personnes qui vont conduire plus rapidement aux « bonnes » solutions,
  • nouer une vraie relation professionnelle avec des homologues,
  • comprendre l’apport décisionnel de la métrologie dans les processus industriels,
  • découvrir les technologies et les solutions de notre quotidien de demain.

Le programme complet et l’inscription en ligne sont accessibles sur le site www.metrologie2015.com

Par C.C

Posté le par La rédaction


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